NI最新模塊化儀器套件有效擴展PXI系統在半導體測試領(lǐng)域中的應用
來(lái)源: icbuy億芯網(wǎng) 類(lèi)別:行業(yè)資訊 更新時(shí)間:2009-11-24 16:30:24 閱讀次
美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)近日發(fā)布10款最新PXI產(chǎn)品,有效擴展PXI進(jìn)行混和信號半導體測試的功能。全新以軟件定義的產(chǎn)品套件專(zhuān)為NI LabVIEW圖形化開(kāi)發(fā)系統而設計,包含四個(gè)高速數字I/O(HSDIO)儀器、兩個(gè)數字開(kāi)關(guān)、兩個(gè)增強射頻儀器、一個(gè)高精度源測量單元(SMU)和專(zhuān)用數字數字矢量文件導入軟件。全新的NI PXI半導體套件包含多種新特性,包括200 MHz單端數字I/O、10 pA電流分辨率、快速多頻帶射頻測量、直流/數字開(kāi)關(guān)和波形發(fā)生語(yǔ)言(WGL)以及IEEE 1450標準測試接口語(yǔ)言(STIL)文件導入功能。
PXI半導體套件進(jìn)一步提升了PXI系統測試通用半導體設備的性能,例如測試ADC、DAC、電源管理IC、無(wú)線(xiàn)IC和微電機系統(MEMS)設備。由于其配備的高級功能,相比常用于半導體設備的特征采集、驗證和生產(chǎn)測試的傳統箱式儀器和自動(dòng)化測試設備(ATD)解決方案,這個(gè)套件提供了更高的吞吐量、更強的靈活性和更快的開(kāi)發(fā)時(shí)間。
ADI公司工程師David Whitley表示:“來(lái)自NI的全新混和信號PXI儀器套件能夠導入WGL和STIL設計向量,驗證我們IC設計的數字協(xié)議和關(guān)鍵時(shí)間參數。PXI和LabVIEW為我們提供了靈活的混和信號特征提取平臺,可以用來(lái)快速配置定制的測試,降低產(chǎn)品總開(kāi)發(fā)時(shí)間和評估成本!
HSDIO儀器的NI PXIe-654x系列儀器包括四個(gè)全新模塊,提供了高達200 MHz的單端時(shí)鐘速率和高達400 Mbps的數據速率,讓工程師能夠測試高速芯片設計,并使用更快的自定制通信協(xié)議。這個(gè)系列中的高級數字模塊包括多種附加特性,例如雙向通信、實(shí)時(shí)比特位比較、雙數據傳輸速率、不同I/O線(xiàn)路的多種定時(shí)延遲以及從1.2 V至3.3 V范圍中選擇22個(gè)不同電平的功能,提高了數字I/O測試的靈活性。這些新型的I/O設備擴展了NI PXI-654x、PXI-655x和PXI-656x系列高速數字設備,提供了總共10種高達200 MHz帶有單端和LVDS電平功能的PXI儀器。
新的NI PXI-4132高精度源測量單元(SMU)提供了低至10 pA的電流靈敏度,用于高分辨率電流測量。它帶有遠程(四線(xiàn)制)傳感和單一輸出的外部保護,在一個(gè)PXI插槽中提供了高達±100 V的電壓承受能力。SMU還提供了多個(gè)其他改進(jìn),包括板載 硬件序列引擎,可用于硬件定時(shí)、高速曲線(xiàn)跟蹤和在PXI背板觸發(fā)和同步多個(gè)PXI-4132 SMU的能力。PXI-4132作為現有的已提供四象限40 W功率輸出(±20V、±2A)的NI PXI-4130 SMU的補足,為PXI提供了高精度和高功率源測量選項。
新型的NI PXI-2515和NI PXIe-2515數字開(kāi)關(guān)通過(guò)幫助工程師將精確直流儀器直接復用到連接在被測芯片的HSDIO線(xiàn)路上,進(jìn)一步增強了PXI產(chǎn)品套件。全新開(kāi)關(guān)還提供了改進(jìn)的信號連接特性,用于參數測量,同時(shí)還保持了在高速數字邊沿上的信號完整性。
全新NI PXIe-5663E和NI PXIe-5673E 6.6 GHz射頻PXI Express矢量信號分析儀和矢量信號發(fā)生器使用稱(chēng)為射頻列表模式的新特性,通過(guò)射頻配置中的快速和確定性的變化,提供了增強的測量速度。全新功能使工程師通過(guò)下載預配置的儀器參數,在不同的射頻配置之間快速循環(huán)成為可能。這在測試功率放大器和其他需要驗證多個(gè)頻率性能的RFIC中尤其有用。這個(gè)增加的功能幫助射頻工程師進(jìn)行比傳統儀器更快的多頻帶射頻測量。
PXI半導體套件還提供了一種有效導入WGL和STIL數字矢量格式的解決方案,從而簡(jiǎn)化了使用NI PXI高速數字產(chǎn)品的設計到測試整合。全新的用于NI軟件的TSSI TD掃描是NI與Test Systems Strategies, Inc.(TSSI)合作的產(chǎn)物,它使得半導體測試工程師將WGL和STIL仿真向量導入PXI系統稱(chēng)為可能,過(guò)去這需要定制軟件開(kāi)發(fā)?梢栽趙ww.ni.com得到WGL/STIL軟件工具的評估版,它支持所有的NI PXI-654x、PXI-655x以及PXI-656x HSDIO系列產(chǎn)品。完整版本可以直接從TSSI購買(mǎi)。
儀器目錄
- SW系列土壤溶液取樣器
- TPGSQ-4土壤管式剖面水分儀
- TPY-9PC型高智能土壤養分檢測儀
- TPZS-II土壤水分速測儀
- TZS-2X-G土壤溫濕度記錄儀
- TEN系列土壤張力計
- TZS-6W多通道土壤溫度記錄儀
- TZS-ECW-G土壤水分溫度鹽分測定儀
- TJSD-750-II土壤硬度計
- TZS-pHW-4G土壤水分-溫度-鹽分-pH四參數記錄儀
- TZS-GPRS-I土壤墑情監測站
- TPJS-B土壤重金屬測定儀
- NL-GPRS-I小型農業(yè)氣象站
- TZS-1K-G便攜式土壤水分測定儀
- TPY-IIA土壤養分速測儀
- TRS-II土壤水勢測定儀
- TRS-I便攜式土壤張力計
- TRS-IIN無(wú)線(xiàn)土壤水勢溫度采集儀
- TRS-II便攜式土壤水勢儀
- TZS-GPRS土壤墑情實(shí)時(shí)監測系統
- TZS-12J土壤墑情與旱情監測儀
- TZS-12J無(wú)線(xiàn)土壤墑情監測儀
- TZS-GPRS多點(diǎn)土壤水分監測系統
- TZS-12JGPRS土壤墑情監測系統
- TZS-12J土壤墑情與旱情監測系統
- TZS-5X多參數土壤測量?jì)x
- TZS-PHWY-7G土壤水分、溫度、鹽分、pH、氮磷鉀測定儀
- TZS-2X-G/TZS-5X-G多參數土壤水分記錄儀
- TZS-IIW快速土壤水分溫度儀
- TZS-1k-G土壤含水量快速測定儀
- TZS-ECWY-6G土壤水分、溫度、鹽分、氮磷鉀測定儀
- TZS土壤墑情測定儀
- TZS-I土壤墑情測試儀
- TZS-II定時(shí)定位土壤水分速測儀
- TZS-IW土壤水分溫度速測儀
- TZS-IIW便攜式土壤水分溫度速測儀
- TZS-W土壤水分溫度檢測儀